CASCADE探针台特点_美国CASCADE探针台产品概述
浏览次数:68      发布于:2024-12-13

内容概述:Cascade Microtech,Inc.(NASDAQ:CSCD)是集成电路(IC)、光学设备和其他小型结构的精密接触、电气测量和测试领域的领导者。对于需要评估小型结构的技术企业和科研机构,Cascade Microtech可访问晶圆、IC、IC封装、电路板和模块、MEMS、3D TSV、LED设备等的电气数据。Cascade Microtech的尖端工作站、探针、探针卡、先进的热子系统和集成系统可在实验室和高速高密度半导体芯片的生产制造过程中提供精确的准确性和卓越的性能。深圳市科电远扬科技有限公司现货供应CASCADE探针台特点_美国CASCADE探针台产品概述等全系列产品,特价采购,保质保量!美国CASCADE等工业产品一站式采购,型号齐全,一件起订,欢迎广大用户前来选购!

一、美国CASCADE公司简介(美国CASCADE品牌介绍)
Cascade Microtech客户在工程和生产半导体测试环境中均使用他们的产品进行先进的晶圆探测。半导体测试公司FormFactor Inc.(Nasdaq:FORM)以3.52亿美元现金和股票收购竞争对手Cascade Microtech Inc.(Nasdaq:CSCD)。合并后的公司将接管合并前公司在半导体测试和测量各个类别中的互补市场领导地位。总部位于加利福尼亚州利弗莫尔的FormFactor预计,合并后的公司将在交易完成后的18到24个月内实现1000万到1200万美元的年度成本协同效应,预计到2016年年中实现。Cascade总部位于俄勒冈州比弗顿。FormFactor表示,通过开放工程系统业务并提供扩展测试和测量业务的方法,其服务的市场将从10亿美元增长到14亿美元。此外,合并后公司的综合资源将拥有更大的客户群,收入对前10名客户的依赖程度较低,而且该交易将提供税收优惠。

CASCADE公司成立于1985年,最初名为FormFactor,由IBM的前研究员Igor Khandros在纽约的一个小型实验室中创立。该公司最初为半导体行业开发产品,特别是引线键合MicroSpring技术,这是三种半导体应用的基础技术:插座、封装和探针卡。CASCADE的探针台系统配备了FormFactor革命性的eVue数字成像系统或高性能SlimVue显微镜。这些系统能够比以往更快、更智能地导航、观察和测量设备,特别适合高密度半导体芯片的组装成本优化。CASCADE提供的可靠性测试台覆盖kHz至170GHz和kHz至220GHz的版本,具有低插入损耗和低接触电阻的特点。探头上集成的双工器用于集成同轴电缆和波导频段,探头间距窄至50μm,进一步提升了测试的精确度和效率。Cascade是一家位于美国的多元化工业制造商,专注于生产高性能的流体管理组件和系统。该公司成立于1947年,总部位于俄勒冈州波特兰市,业务范围涵盖了多个行业,包括石油和天然气、化学品、半导体、食品和饮料、制药、电力和公用事业等。

二、美国CASCADE探针台产品简述
①晶圆和芯片级光子探测的革命性技术进步
②实时现场校准
③单个芯片测试
④真正的芯片级边缘耦合
⑤现场功率测量
⑥先进的校准技术
⑦实现自主测量

三、美国CASCADE探针台产品描述
①测试结果准确度最高
②最低耦合损耗
③采用独有的自动光纤到面对准技术,可获得可重复的测量结果
④采用防撞技术降低光纤损坏的风险
⑤经验不足的用户也可以轻松使用
⑥能够紧密模拟真实环境条件,设备性能最接近最终应用

四、美国CASCADE探针台产品大意
①功能强大的FormFactor开发软件包
②包含大量用于实现和促进光学探测的工具集
③通过将探测站机器视觉功能与光学定位和测试设备相结合,实现手动任务的自动化
④功能:测量位置训练、晶圆训练、自动对准功能、校准晶圆验证、光学对准验证、子芯片管理
⑤用于捕获、记录和解释数据的各种工具

五、美国CASCADE探针台产品摘要
①实现单接触高电流/高电压测试
②只需一次触地即可实现高达10,000 V和300 A脉冲(并联配置下为600 A)的同轴测量
③采用创新的多指尖设计,实现大电流的均匀分布
④兼容Tesla 200/300毫米功率器件表征系统
⑤通过一次着陆即可测试高电压和高电流条件,从而缩短测量时间
⑥准确表征各种焊盘尺寸和测试电流,同时最大程度地减少焊盘损坏和接触电阻
⑦在较宽的温度范围内(-55°C至+300°C)进行安全、可靠且可重复的高电流/电压测量

六、美国CASCADE探针台产品大意
①FormFactor Beaverton超高功率探头(UHP)是一款高压参数探头,可在宽温度范围(-55ºC至300ºC)下处理高电压(高达10,000 V)和高电流(高达600 A)。
②UHP只需一次设置和一次触地即可实现完整的IV特性分析。
③与Tesla晶圆上功率器件特性分析系统结合使用,UHP可充分利用Agilent B1505A和N1265A超高电流扩展器的高压/电流功能。
④同轴测量高达10,000 V和300 A脉冲(20A DC),无需多个探头和多次测量设置更改。
⑤创新的多指尖设计,实现电流均匀分布,最大限度减少焊盘损坏。
⑥使用双探头配置时,探头电流可加倍至600 A。
⑦使用Agilent B1505A和N1265A超高电流扩展器可实现高度可靠、稳定且可重复的测量。
CASCADE探针台特点_美国CASCADE探针台产品概述

图/文 科电远扬@hlo-trade.com

七、美国CASCADE探针台产品特点
①只需一次触地即可实现高达10,000 V和300 A脉冲(并联配置下为600 A)的同轴测量
②采用创新的多指尖设计,实现大电流的均匀分布
③兼容Tesla 200/300毫米功率器件表征系统
④通过一次着陆即可测试高电压和高电流条件,从而缩短测量时间
⑤准确表征各种焊盘尺寸和测试电流,同时最大程度地减少焊盘损坏和接触电阻
⑥在很宽的温度范围内(-55°C至+300°C)进行安全、可靠且可重复的高电流/电压测量

八、美国CASCADE探针台产品详情
①CM300xi-SiPh 300毫米探针台是市场上首款经过验证的集成测量解决方案,可在安装后立即进行经过工程和生产验证的优化光学测量-无需进一步开发。这款独特的自主SiPh测量助手提供了一套突破性的功能,可以精确校准光学定位硬件以适应探针台并验证集成系统的性能。
②该系统结合革命性的OptoVue高级校准技术、智能机器视觉算法和独有的SiPh TopHat(用于黑暗、屏蔽和无霜环境),实现了在多个温度下真正的免手动自主校准和重新校准。这可以更快地实现更准确的测量并降低测试成本。
③FormFactor独家开发的SiPh-Tools和光子控制器接口(PCI)为对准、数据收集和分析提供了强大的软件工具。其中包括使用光纤和光纤阵列进行表面和边缘耦合应用所需的所有算法。
④FormFactor提供所需的所有工具、装置和功能,使您能够在几天内(而不是几个月或几年)对光子设备执行硅光子探测。

九、美国CASCADE探针台产品概述
①高性能电源旁路提供高达20 GHz的低阻抗和无谐振连接
②射频带宽达500 MHz
③探针寿命长:>250,000次接触
④铍铜探针用于金垫,钨探针用于铝垫
⑤宽带模拟电路的无振荡测试
⑥与ACP系列探头一起使用,为已知良好的芯片提供功能性高速测试
⑦混合多种接触类型:接地、电源(标准或Eye-Pass)、逻辑/信号
⑧铝垫上的接触电阻低且可重复(铝上<0.25Ω,金上<0.01Ω)

十、美国CASCADE探针台产品总结
①Multi|Z|Probe®是RF/微波多端口和数字信号测试的新维度。它使用与其他|Z|探头相同的专利技术,但一个探头最多可承载16个RF/微波信号。此外,DC和RF/微波信号可以在探头上混合,让您可以添加功率偏置和RF信号。
②当单个探针必须接触多个单独的焊盘时,接触结构必须完全对齐,这一点非常重要。由于采用了MEMS技术,Multi|Z|探针最多可以接触35个焊盘。此外,通过独立触点的弹簧式运动,可以轻松克服焊盘高度的细微差异。
③如果需要,可以配置多|Z|探头来测试直流测试应用中的直流信号。对于单端应用,请参阅|Z|探头。对于只需要两个信号的应用,可以使用双|Z|探头。多|Z|探头还可以集成到|Z|探头卡中,以进行高吞吐量射频测试。

十一、美国CASCADE相关产品部分型号分享
①CASCADE LASER激光灯管:Cascade Laser PN:LL116X-N
②Cascade laser激光灯管Cascade laser PN:LL116X-N
③美国CASCADE FormFactor TouchMatrix™晶圆探针
④美国CASCADE DC-Q探头
⑤美国CASCADE WPH探针
⑥美国CASCADE多|Z|探针
⑦美国CASCADE Eye-Pass探针
⑧美国CASCADE CM300xi-SiPh
⑨FormFactor(Cascade Microtech)超高功率探头(UHP)

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